Error get alias
Измерение профиля поверхности
Инжиниринговый центр в области радиоэлектронного приборостроения «Технопарка Санкт-Петербурга» предоставляет услугу измерения профиля поверхности с использованием высокоточного оптического профилометра Nikon BW-S505. Оборудование основано на технологии FVWLI (Full-View White Light Interference), реализующей метод сканирующей оптической интерферометрии. Эта технология позволяет получать трёхмерные изображения микрорельефа поверхности с нанометровым разрешением без контакта с образцом.
Услуга применяется для точной оценки шероховатости, микродефектов, глубины микроструктур и контроля качества обработки поверхности в микроэлектронике, материаловедении, прецизионной механике и других высокотехнологичных отраслях.
Специалисты центра обеспечивают высокую достоверность измерений, быстрый результат и интерпретацию данных по запросу заказчика. Услуга доступна как для предприятий, так и для научно-исследовательских организаций, ведущих разработку инновационной продукции.
Услуга применяется для точной оценки шероховатости, микродефектов, глубины микроструктур и контроля качества обработки поверхности в микроэлектронике, материаловедении, прецизионной механике и других высокотехнологичных отраслях.
Специалисты центра обеспечивают высокую достоверность измерений, быстрый результат и интерпретацию данных по запросу заказчика. Услуга доступна как для предприятий, так и для научно-исследовательских организаций, ведущих разработку инновационной продукции.
Подразделение: Инжиниринговый центр в области радиоэлектронного приборостроения
Другие услуги «Технопарка Санкт-Петербурга»